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增益校準(zhǔn)曲線

同時(shí)顯示A掃描和S掃描的視圖

EPOCH 1000i儀器具有同時(shí)顯示A掃描和S掃描的標(biāo)準(zhǔn)視圖。這個(gè)視圖顯示來(lái)自處于用戶定義的起始角度和終止角度之間的每個(gè)角度的A掃描數(shù)據(jù)。可以選擇被統(tǒng)稱為聚焦法則的某個(gè)單個(gè)角度，將這個(gè)角度的A掃描實(shí)時(shí)顯示在屏幕上。這樣用戶利用相控陣成像功能，可以同時(shí)在多個(gè)角度下探測(cè)并定性潛在的缺陷。

校準(zhǔn)全部聚焦法則

EPOCH 1000i儀器在相控陣模式下校準(zhǔn)增益和零位偏移時(shí)，只需一步操作，即可對(duì)全部聚焦法則進(jìn)行校準(zhǔn)。這種自動(dòng)校準(zhǔn)操作可以在所有成像的角度（聚焦法則）下捕獲單個(gè)反射體的峰值波幅或聲時(shí)/距離測(cè)量值。然后，儀器使用捕獲的波幅或聲時(shí)/距離數(shù)據(jù)對(duì)每個(gè)聚焦法則的增益和零位偏移進(jìn)行調(diào)整，以為每個(gè)A掃描提供經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的測(cè)量值。

相控陣DAC編輯模式

用于全部聚焦法則的標(biāo)準(zhǔn)DAC/TVG

EPOCH 1000i儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置包含用于全部聚焦法則的DAC/TVG。操作人員可以基于已知反射體，一次性為所有需要定義的角度或聚焦法則采集DAC曲線或創(chuàng)建TVG設(shè)置。隨后，用戶可以對(duì)在設(shè)置過(guò)程中采集到的單個(gè)點(diǎn)進(jìn)行編輯，以獲得準(zhǔn)確的DAC曲線或TVG設(shè)置。設(shè)置完成以后，用戶即可使用S掃描圖像探測(cè)出各個(gè)聚焦法則下的潛在缺陷。

相控陣DGS/AVG模式

標(biāo)準(zhǔn)相控陣DGS/AVG

DGS/AVG缺陷定量技術(shù)是相控陣模式中的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)選項(xiàng)。這個(gè)功能使用探頭ID識(shí)別碼與楔塊信息，建立DGS/AVG曲線特性，并將曲線應(yīng)用在0°、45°、60°和70°聚焦法則上。用戶使用標(biāo)準(zhǔn)EPOCH儀器的機(jī)載DGS/AVG菜單和經(jīng)過(guò)修正的增益校準(zhǔn)工具，可以快速方便地進(jìn)行設(shè)置。這個(gè)選項(xiàng)還提供插值圖像TVG，用于在特定聲程范圍內(nèi)進(jìn)行便捷的檢測(cè)操作。

帶有焊縫覆蓋的相控陣S掃描

焊縫覆蓋

焊縫覆蓋功能是EPOCH 1000i儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置，為用戶在S掃描顯示中提供了一個(gè)焊縫縱剖面圖的視覺(jué)參考信息。這個(gè)縱剖面圖可顯示缺陷指示相對(duì)于焊縫幾何形狀的相對(duì)位置。

用戶使用焊縫中線光標(biāo)，可以手動(dòng)定位焊縫覆蓋圖在S掃描中的位置。焊縫覆蓋功能不僅加強(qiáng)了在檢測(cè)過(guò)程中探出、定性、定量工件中缺陷的能力，而且提高了缺陷檢測(cè)報(bào)告的質(zhì)量。

多角度相控陣模式

EPOCH 1000i的多角度功能

EPOCH 1000i儀器的相控陣模式添加了一個(gè)名為"多角度"的標(biāo)準(zhǔn)功能。操作人員使用這個(gè)功能可指定掃查扇區(qū)范圍內(nèi)的任何3個(gè)角度或聚焦法則，作為"可見(jiàn)的"聚焦法則。A掃描窗口中會(huì)顯示疊加在一起的來(lái)自3個(gè)指定角度的A掃描圖像。這樣，操作人員可以同時(shí)查看全部3個(gè)A掃描圖像。為使用方便，每個(gè)單獨(dú)的角度都以不同的顏**分。對(duì)于需要使用常規(guī)定量方法在45°、60°和70°角度處進(jìn)行評(píng)價(jià)的檢測(cè)人員來(lái)說(shuō)，這無(wú)疑是一個(gè)非常**的功能！

帶有真實(shí)深度閘門的A掃描和S掃描

真實(shí)深度閘門

在真實(shí)深度模式下，可以在S掃描中顯示多個(gè)測(cè)量閘門，這樣就可以在貫穿工件、間距相等的深度位置上采集測(cè)量讀數(shù)，而無(wú)需考慮所選擇的聚焦法則。這個(gè)功能在使用編碼C掃描選項(xiàng)時(shí)尤其有用，因?yàn)橛脩衾眠@個(gè)功能，可以在一個(gè)單一閘門位置上采集到一個(gè)完整跳躍距離的信息。

真實(shí)深度閘門是只會(huì)出現(xiàn)在S掃描中的幾條水平線。A掃描視圖依然保持聲程模式。

45°聚焦法則的AWS"D"值焊縫定級(jí)顯示

AWS焊縫定級(jí)

EPOCH 1000i儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置包含一個(gè)AWS D1.1/D1.5焊縫定級(jí)計(jì)算器。如果儀器使用符合AWS定級(jí)的Olympus相控陣探頭，則可利用成像功能進(jìn)行缺陷探測(cè)，同時(shí)利用常規(guī)A掃描技術(shù)定量在45°、60°和70°處的缺陷。操作人員還可在屏幕上觀察任何所選A掃描（聚焦法則）的焊縫定級(jí)D值。

這個(gè)可選購(gòu)軟件功能將EPOCH 1000i儀器的配置提高到了16:64晶片，既可以顯示線性掃描，也可以顯示編碼或時(shí)基C掃描。使用多含有64個(gè)晶片，大活動(dòng)孔徑為16個(gè)晶片的探頭，可以采集線性掃描圖。

沿單線掃查軸進(jìn)行已編好程序的線性掃查或扇形掃查，可以采集到圖像數(shù)據(jù)；這些圖像數(shù)據(jù)的積累可以創(chuàng)建C掃描圖像。探頭沿掃查軸移動(dòng)時(shí)需要有一個(gè)編碼器跟蹤探頭的移動(dòng)。這個(gè)編碼C掃描圖像收集來(lái)自兩個(gè)獨(dú)立測(cè)量閘門的渡越時(shí)間（TOF）數(shù)據(jù)和波幅數(shù)據(jù)。在C掃描圖像的采集過(guò)程中會(huì)實(shí)時(shí)顯示A掃描。C掃描中所有點(diǎn)的壓縮A掃描圖像都會(huì)被存儲(chǔ)起來(lái)，并在顯示C掃描中某個(gè)位置的S掃描或線性掃描的同時(shí)顯示這個(gè)位置的A掃描圖像，用于基本的圖像分析。采集到掃描圖像以后，可以對(duì)數(shù)據(jù)源和類型進(jìn)行動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)，可使用光標(biāo)進(jìn)行基本掃查定量操作。這個(gè)軟件功能還具有一些附加彩色調(diào)色板，用于相控陣掃描圖像。這些彩色調(diào)色板分別具有不同的顏色標(biāo)度，可用于各種應(yīng)用，還可被修改以滿足用戶的特殊需求。

請(qǐng)觀看有關(guān)編碼C掃描特性的視頻。